Curso de Posgrado: Fundamentos y aplicaciones de miscropias SIM y AFM

Curso de posgrado: Fundamentos y aplicaciones de las microscopías de efecto túnel (STM) y de fuerzas atómicas (AFM)
Profesor Responsable: Dra. María Elena Vela.
Inscripción (con la responsable del curso Dra. Vela): 3 al 21 de junio.
Exigencias y requisitos de inscripción: Poseer título de grado en carreras universitarias del área de las Cs. Exactas y Naturales, Medicina e Ingeniería.

Contacto para Información e Inscripciones
mevela@inifta.unlp.edu.ar

Cupo de alumnos: 10.
Modalidad:Teórico práctico.
Tipo de evaluación prevista: Examen
Fecha de dictado: 10, 11 y 12 de julio.

Docentes Participantes:
Carolina Vericat (2 horas)
Patricia Schilardi (2 horas)
Guillermo Benítez (2 horas)
María Elena Vela (6 horas )
Eduardo Prieto (6 horas de laboratorio en dos turnos)*
(*) Los laboratorios cuya duración es de tres horas se harán en dos turnos diferentes para facilitar la participación de los alumnos en grupos de no más de cinco personas
Duración Total: 15 Horas.

Teléfono:
4257430